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四軸定位IC掃描儀

]資料

產品名稱: 四軸定位IC掃描儀
產品型號: ICS 105 set
產品展商: Langer
產品文檔: 無相關文檔

ICS 105型四軸定位IC掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。ICS 105 set 四軸定位IC掃描儀還可以單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內的測量，空間分辨率可達50μm。

四軸定位IC掃描儀

的詳細介紹

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ICS 105型集成電路掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。根據(jù)使用的探頭情況，可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內對磁場或電場進行測量，并在電腦上顯示測量結果。此外，探頭可自動旋轉以確定磁場的準確方向。 可單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內的測量，空間分辨率可達 50μm。

Technical parameters

電源電壓	110 / 230 V
接口	USB
大過程路徑	(50 x 50 x 50) mm α-Rotation ±180°
小過程路徑	(10 x 10 x 10) μm α-Rotation 1°
移動速度	(10 x 10 x 5) mm/s α-Rotation 90°/s
重量	23 kg
尺寸 (L x W x H)	(350 x 400 x 420) mm
3D-掃描
表面掃描

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