測(cè)試直流 spark-over 電壓和 沖擊spark-over電壓 

輸出電壓的上升，可選： 600 V= : 100 V/s 5 kV 沖擊: 100V/μs - 5000 V/μs 

絕緣電阻0.25 -250 M? 滿(mǎn)足CCITT / ITU-T, K12 

      前沿削頂波發(fā)生器IPG 506用于測(cè)試過(guò)壓保護(hù)器的直流和沖擊spark-over電壓的測(cè)試，滿(mǎn)足CCITT / ITU-T, K12。

      直流 spark-over 電壓: 線性上升的電壓與待測(cè)的設(shè)備相連接，上升速率100 V/s ，快速可達(dá)637.5 V/μs。spark-over 電壓可以顯示。

      脈沖 spark-over 電壓: 線性上升的沖擊電壓與待測(cè)設(shè)備相連，上升速率100 V/μs，高達(dá)5000 V/μs。Spark-over 電壓的測(cè)量由峰 值檢測(cè)器完成，其結(jié)果可以顯示。內(nèi)置的分壓器使用戶(hù)可以用外接的示波器測(cè)量spark-over 電壓。另外，在 0.25 - 250 M?的范圍內(nèi)，可以測(cè)量測(cè)試設(shè)備的絕緣電阻，測(cè)試電壓可選 50 / 100 V。 高壓輸出終端位于發(fā)生器的頂部，又具有**互鎖功能的**保護(hù)箱保護(hù)。作為可選項(xiàng)，可以集成一個(gè)開(kāi)關(guān) 單元，使用戶(hù)可以連續(xù)的進(jìn)行多達(dá)8個(gè)設(shè)備的測(cè)試。

       IPG 506包含有微處理器控制的用戶(hù)接口和顯示以便于用戶(hù)使用。微處理器使用戶(hù)既可以執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試程 序，又可以執(zhí)行‘用戶(hù)預(yù)設(shè)’的測(cè)試程序。測(cè)試參數(shù)既可以顯示、又可以方便的通過(guò)前面板上的手輪進(jìn)行調(diào) 整。 測(cè)試進(jìn)行過(guò)程中，標(biāo)準(zhǔn)并行打印接口可使用戶(hù)打印出測(cè)試參數(shù)和spark-over電壓測(cè)量值的報(bào)告。 發(fā)生器具有一體化設(shè)計(jì), 操作簡(jiǎn)單和脈沖重復(fù)性精準(zhǔn)等特點(diǎn)。除此之外，發(fā)生器的所有功能均可通過(guò)隔離的 光纖接口實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)控制。

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